重要なお知らせ

１．2025年4月以降もNanoESCAの運用を継続します。
【詳細】
軟Ｘ線マルチモーダルオペランド顕微分光装置 の導入にあたり、これまで、2024年度末をもって NanoESCA の運用を終了する旨を お知らせしておりましたが、「継続して使用したい」とのご要望があり、検討しました結果、 設置場所を数メートル上流側に移動する方法にて、運用を継続することといたしました。
なお、設置場所の移動により NanoESCA における集光ビームサイズが変化する可能性が ございます。
NanoESCAにおける集光ビーム利用はアドバンスト測定に分類しておりますので、 詳細に関するご質問につきましては、装置管理者である東京大学の原田慈久教授または 木内久雄助教までお問合せください。
連絡先をご存知ない場合は、担当コンシェルジュまでご連絡をよろしくお願いいたします。

２．測定装置の利用休止または運用終了の必要が生じた場合、本WEBサイトでお知らせいたします。
【詳細】
ビームラインに既設の測定装置等について、深刻な故障や老朽化、または、利用頻度が 顕著に低い場合には、利用休止または運用終了とさせていただく場合がございます。
その場合、本WEBサイトでお知らせいたします。

主な測定法

• 軟X線吸収分光 (XAS)
• 共鳴非弾性Ｘ線散乱 (RIXS)（アドバンスト測定）
• 軟Ｘ線光電子分光 (XPS)
• ナノＸ線光電子分光 (NanoESCA)（アドバンスト測定）

概要

BL07Uは50～1000 eVの軟Ｘ線を利用して、物質の電子状態解析をおこなうビームラインです。 APPLE-II型の楕円偏光アンジュレータによって、垂直・水平直線偏光や左右円偏光を利用する設計となっています。 偏角および発散角のエネルギー依存性がない光学系を採用しております。

実験装置として、ナノＸ線光電子分光装置（3DNanoESCA）と共鳴非弾性Ｘ線散乱装置（HORNET）がタンデム配置されており、 固体、液体、気体の化学状態分析を行うことができます。

ビーム特性

エネルギー　

50 ～ 1000 eV （円偏光）
250 ～ 1000 eV（水平直線偏光）

フラックス　

> 1x10¹² photons/s　（計算値、エネルギーや実験条件に依存する）

光源と光学系

53極・周期長75 mmのAPPLE-II型アンジュレータを光源とし、回折格子分光器で単色化した軟Ｘ線ビームが利用可能です。 分光器の下流にスリットがあり、エネルギー分解能の調整や、走査型イメージングにおける仮想光源として利用できます。

実験ステーション

【HORNET】

測定法

・Ｘ線吸収分光 XAS(TEY、PFY、自動測定)　１スペクトル10分程度　 ［標準測定］

・Ｘ線吸収イメージング(TEY、PFY)　 ［標準測定］

・共鳴非弾性Ｘ線散乱 RIXS　 ［アドバンスト測定］

ビームサイズ

・約20µｍ（水平）×5µｍ（垂直）

試料

・固体　　　　　　　 ［標準測定］

・固体、液体、気体　 ［アドバンスト測定］

・試料マウントについて

【3DNanoESCA】

測定法

・Ｘ線光電子分光　　XPS　１スペクトル15分程度

・Ｘ線吸収分光　　　XAS(TEY)　１スペクトル10分程度

ビームサイズ

・1mm角　　　　　　　 ［標準測定］

・ Φ100 nm (FZP使用)　 ［アドバンスト測定］

試料

・固体（導電性があり、観察対象が表面から2 nm以内に存在すること）

・試料マウントについて

レイアウト

△クリックで拡大

アドバンスト測定

アドバンスト測定として、
・HORNET　　　　共鳴非弾性Ｘ線散乱、溶液セルを用いた液体・気体の測定
・3DNanoESCA　　ナノ光電子分光
ができます。
また、これらの装置では、トランジスタや電池などのオペランド測定を実施できます。
詳細については、担当の原田教授、木内助教（東大物性研）にご相談ください。

リンク
東京大学大学院 新領域創成科学研究科 物質系専攻
東京大学物性研究所 極限コヒーレント光科学研究センター 軌道放射物性研究施設 原田研究室