主な測定法

• 軟X線吸収分光 (XAS)
• 共鳴非弾性Ｘ線散乱 (RIXS)（アドバンスト測定）
• 軟Ｘ線光電子分光 (XPS)
• ナノＸ線光電子分光 (NanoESCA)（アドバンスト測定）

概要

BL07Uは50～2000 eVの軟Ｘ線を利用して、物質の電子状態解析をおこなうビームラインです。 APPLE-II型の楕円偏光アン ジュレータによって、垂直・水平直線偏光や左右円偏光を利用する設計となっています。 偏角および発散角のエネルギー依 存性がない光学系を採用しております。
実験装置として、ナノＸ線光電子分光装置（NanoESCA）、軟Ｘ線マルチモーダルオペランド顕微分光装置（SCORPIUS） 、共鳴非弾性Ｘ線散乱装置（HORNET）がタンデムに配置されています。 固体、液体、気体の電子状態・化学状態を解析します。

ビーム特性

エネルギー　

·  50 ～ 2000 eV (水平直線偏光)
·  86 ～ 2000 eV (垂直直線偏光)
·  50 ～ 1000 eV (左右円偏光)
·800 ～ 2000 eV (左右楕円偏光)

フラックス　

> 1x10¹² photons/s　（計算値、エネルギーや実験条件に依存する）

光源と光学系

53極・周期長75 ㎜ のAPPLE-II型アンジュレータを光源とし、回折格子分光器で単色化した軟Ｘ線ビームが利用可能です。 分光器の下流にスリットがあり、エネルギー分解能の調整や、走査型イメージングにおける仮想光源として利用できます。

実験ステーション

【HORNET】

測定法

·Ｘ線吸収分光 XAS(TEY、PFY、自動測定)　１スペクトル10分程度 　 【標準測定】

·Ｘ線吸収イメージング(TEY、PFY) 　　　　　　　　　　　　　　　 【標準測定】

·共鳴非弾性Ｘ線散乱 RIXS 　　　　　　　　　　　　　　　 ［アドバンスト測定］

ビームサイズ

·約30 ㎛ （水平）× 1 ㎛（垂直）

試料

·固体   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 【標準測定】

·固体、液体、気体　   　　　　　　　　　　　　　　　　　 【アドバンスト測定】

・試料マウントについて

測定例

・BL07U XAS 測定例

【NanoESCA】

測定法

·Ｘ線光電子分光　　XPS　１スペクトル15分程度 　　　　　　　　   【標準測定】

·Ｘ線吸収分光　　　XAS(TEY,AEY)　１スペクトル10分程度 　　　　 【標準測定】

·共鳴光電子分光      　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 【標準測定】

·X線光電子イメージング    　　　　　　　　　　　　　　　 【アドバンスト測定】

ビームサイズ

· 1 ㎜角 　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 【標準測定】

· Φ 100 ㎚ (FZP使用)   　　　　　　　　　　　　　　　　　 【アドバンスト測定】

試料

· 固体（導電性があり、観察対象が表面から2 nm以内に存在すること）

· 試料マウントについて

測定例

・BL07U PES 測定例

【SCORPIUS】

測定法

· Ｘ線光電子分光　　　　　　XPS　　　    　　　　　　　　　　　 【標準測定】

· 紫外線光電子分光　　　　　UPS　　　    　　　　　　　　　　　 【標準測定】

· Ｘ線吸収分光　　　　　　　XAS　　　    　　　　　　　　　　　 【標準測定】

· 角度分解光電子分光　　　　ARPES　     　　　　　　　　 【アドバンスト測定】

· スピン角度分解光電子分光　SARPES　   　　　　　　　　 【アドバンスト測定】

お知らせ

· 軟Ｘ線マルチモーダルオペランド顕微分光装置について

レイアウト

アドバンスト測定

アドバンスト測定として、
· HORNET　　　共鳴非弾性Ｘ線散乱、溶液セルを用いた液体・気体の測定
· NanoESCA　　ナノ光電子分光、ナノ光電子イメージング
ができます。
また、これらの装置では、トランジスタや電池などのオペランド測定を実施できます。
詳細については、担当の原田教授（東大物性研）にご相談ください。

リンク
東京大学大学院 新領域創成科学研究科 物質系専攻
東京大学物性研究所 極限コヒーレント光科学研究センター 軌道放射物性研究施設 原田研究室