BL07U

主な測定法

• 【標準測定】
• 軟X線吸収分光 (XAS) – RIXS装置を利用
• 軟X線光電子分光 (XPS) – NanoESCA装置を利用
• 角度分解光電子分光 (ARPES) – SCORPIUS装置を利用
• 【アドバンスト測定】
• 共鳴非弾性X線散乱 (RIXS)
• ナノX線光電子分光 (NanoESCA)
• マルチモーダルオペランド顕微分光 (SCORPIUS ※開発中)

概要

BL07Uは50～2000 eVの軟Ｘ線を利用して、物質の電子状態解析をおこなうビームラインです。 APPLE-II型の楕円偏光アンジュレータによって、垂直・水平直線偏光や左右円偏光を利用する設計となっています。 偏角および発散角のエネルギー依存性がない光学系を採用しております。
実験装置として、ナノＸ線光電子分光装置（NanoESCA）、軟Ｘ線マルチモーダルオペランド顕微分光装置（SCORPIUS） 、共鳴非弾性Ｘ線散乱装置（HORNET）がタンデムに配置されています。 固体、液体、気体の電子状態・化学状態を解析します。

ビーム特性

• エネルギー ・50 ～ 2000 eV (水平直線偏光)
  ・86 ～ 2000 eV (垂直直線偏光)
  ・50 ～ 1000 eV (左右円偏光)
  ・800 ～ 2000 eV (左右楕円偏光)
• フラックス > 1x10¹² photons/s （計算値、エネルギーや実験条件に依存する）

光源と光学系

53極・周期長75 mm のAPPLE-II型アンジュレータを光源とし、回折格子分光器で単色化した軟Ｘ線ビームが利用可能です。 分光器の下流にスリットがあり、エネルギー分解能の調整や、走査型イメージングにおける仮想光源として利用できます。

実験ステーション

【HORNET】

• 測定法 ・Ｘ線吸収分光 XAS(TEY、PFY、自動測定) １スペクトル10分程度 【標準測定】
  ・Ｘ線吸収イメージング(TEY、PFY) 【標準測定】
  ・共鳴非弾性Ｘ線散乱 RIXS ［アドバンスト測定］
• ビームサイズ ・約30 μm （水平）× 1 μm（垂直）
• 試料 ・固体 【標準測定】
  ・固体、液体、気体 【アドバンスト測定】
  ・試料マウントについて
• 測定例 ・BL07U XAS 測定例

【NanoESCA】

• 測定法 ・Ｘ線光電子分光 XPS １スペクトル15分程度 【標準測定】
  ・Ｘ線吸収分光 XAS(TEY,AEY) １スペクトル10分程度 【標準測定】
  ・共鳴光電子分光 【標準測定】
  ・X線光電子イメージング 【アドバンスト測定】
• ビームサイズ ・1 mm角 【標準測定】
  ・Φ 100 μm (FZP使用) 【アドバンスト測定】
• 試料 ・固体（導電性があり、観察対象が表面から2 nm以内に存在すること）
  ・試料マウントについて
• 測定例 ・BL07U PES 測定例

【SCORPIUS】

• 測定法 ・Ｘ線光電子分光 XPS 【標準測定】
  ・紫外線光電子分光 UPS 【標準測定】
  ・Ｘ線吸収分光 XAS 【標準測定】
  ・角度分解光電子分光 ARPES 【標準測定】
  ・スピン角度分解光電子分光 SARPES 【アドバンスト測定】
• お知らせ ・軟Ｘ線マルチモーダルオペランド顕微分光装置について

レイアウト

アドバンスト測定

アドバンスト測定として、
・HORNET 共鳴非弾性Ｘ線散乱、溶液セルを用いた液体・気体の測定
・NanoESCA ナノ光電子分光、ナノ光電子イメージング
・SCORPIUS マルチモーダルオペランド顕微分光（※開発中）
ができます。
また、これらの装置では、トランジスタや電池などのオペランド測定を実施できます。
詳細については、担当の原田教授（東大物性研）にご相談ください。