BL08W-SAXS

主な測定法

• 小角X線散乱(SAXS)
• 広角X線散乱・回折(WAXS)
• 斜入射SAXS (GI-SAXS)

概要

小角Ｘ線散乱、広角領域の回折および散乱を測定するための装置です。 Anton Paar社製SAXSpoint5.0小角散乱装置を測定装置とし、 光源はウィグラーからの放射光を使用しています。 試料と検出器が真空中に置かれているため、バックグラウンドが低く、 また検出器を移動することで試料と検出器の間の距離を随時変更可能です。 同社製のソフトウェアを用いた測定とデータ解析が可能です。詳細につきましては、 論文(Journal of Applied Crystallography)を御覧ください。

なお、USAXS測定はBL10Uにて標準測定として実施可能です。

ビーム特性

• エネルギー 8.05 keV　または　13.1 keV
  
  ※ご希望のエネルギーへの変更が必要な場合は、ご予約頂いたビームタイム開始時での 調整となります。
  なお、ビームタイム中のエネルギー変更は下記の理由により原則として実施しておりません。
  
  SAXSのエネルギー変更は、ビームライン最上流の光学素⼦を調整する必要があり、BL08Wに おける他ブランチ（XAFS, XRD）での信号強度に影響します。 そのため、ビームタイム中にエネルギー変更の必要が⽣じた場合、XAFSとXRDの計測が ⼀時的に⽌まるタイミングを待ってから切り替えを実施することになります。
• ビームサイズ 8.05 keV：水平 約150 μm, 垂直 約80 μm
  
  
  13.1 keV：水平 約130 μm, 垂直 約65 μm
  
  
• フラックス 8.05 keV：1.0x10¹¹ cps
  13.1 keV：4.4x10¹⁰ cps

光源と光学系

5極マルチポールウィグラーを光源とし、Si結晶のブラッグ反射で ビームを水平方向に分岐したブランチである。 X線エネルギーは、Si111またはSi220のいずれかを選択することで選べます。 集光はベントシリンドリカルミラーで行う。

実験ステーション

ハッチの大きさ

約5m（光軸方向）x約2.5m（幅） x 約3.3m（高さ）

実験装置

【Anton Paar社製SAXSpoint5.0小角散乱装置】

• 放射光をＸ線源とする（製品情報）
• 以下の試料セルが利用可能である。測定は真空中で行うが、封入型の試料セル（カプトン窓付き）も準備されている。
• ・20試料が装着可能な固体・粉末試料ホルダー（2種類)
• ・4試料が装着可能なペースト／ゲル試料ホルダー
• ・4試料が装着可能な溶液用ホルダー
• ・5本の使い捨てキャピラリーが装着可能な試料ホルダー
• いずれも-10～120℃の温度制御が可能である。（温度制御サンプラー）
• オプション装置として、GISAXSステージ、GISAXS加熱モジュール、 石英フローセル、SiNセルなどが準備されている。
• 最大20試料の自動測定が可能
• 二次元SAXS/WAXSマッピング可能（GISAXSステージ）

検出器

【Eiger2 1M（二次元検出器）】
ハイブリッド型シリコンフォトンカウンティングＸ線検出器

• 検出面積： 79.9mmx77.2mm (WxH)（2モジュール）
• 画素サイズ： 75ミクロン角
• 試料から検出器までの距離は、真空中で55～1600mmの範囲で変更可能。 ただしSAXS/WAXS同時測定は不可。

測定qレンジ: 8.1 keVの場合
0.025 < q < 38 nm^-1

測定qレンジ: 13.1 keVの場合
0.035 < q < 57.1 nm^-1

（検出器をオフセットすることによりさらに広角の測定が可能）

レイアウト

平面図

試料セル

Multi-Solid Holder 4×5

Powder/Paste Holder 4×5

Liquid Holder 2×2

Multi-Capillary Holders

Anton Paar社製　GISAXS/GIWAXD用ステージ

試料ステージ部　90mm x 58mm　回転ステージ部　30Φ

Anton Paar社製 延伸ステージ

画像はAnton Paar Webサイトより引用
https://www.anton-paar.com/jp-jp/products/details/tensile-stage/