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              | ビームライン | 測定法 | 測定法(アドバンスト) | 
| BL07U | 軟X線吸収分光(XAS), 軟X線光電子分光(XPS) | 共鳴軟X線非弾性散乱 (RIXS), ナノX線光電子分光 (NanoESCA) | 
| BL08U | 軟X線光電子分光(XPS), 軟X線吸収微細構造(SX-XAFS) | 雰囲気軟X線光電子分光 (AP-XPS), オペランド軟X線 吸収微細構造 (operando SX-XAFS) | 
| BL08W_XRD | 粉末X線回折, 二次元X線回折マッピング, 表面X線回折, In-situX線回折, 蛍光X線による 元素マッピング | |
| BL08W_SAXS | 小角X線散乱, 広角X線散乱・回折, Grazing incidence 小角・広角散乱・回折 | |
| BL08W_XAFS | テンダーX線XAFS, 硬X線XAFS | |
| BL09U | HAXPES (硬X線光電子分光法) | |
| BL09W | 白色X線CT, 白色X線イメージング | 4D-CT | 
| BL10U | 単色X線CT | マイクロビーム蛍光 マッピング, USAXS, XPCS, X線タイコグラフィー | 
| BL14U | 軟X線吸収分光(XAS), 軟X線磁気円二色性分光 (XMCD) | 軟X線イメージングSXM, STXM |