ビームライン情報 - 一般財団法人光科学イノベーションセンター

BL08U INFORMATION

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主な測定法

軟X線光電子分光 (XPS)
軟X線吸収微細構造 (SX-XAFS)
雰囲気軟X線光電子分光 (AP-XPS)（アドバンスト測定）
オペランド軟X線吸収微細構造 (operando SX-XAFS)（アドバンスト測定）

概要

BL08Uは180～2000 eVの軟X線を利用して、物質の電子状態解析を行うビームラインです。APPLE-II型の楕円偏光アンジュレータによって、垂直・水平直線偏光や左右円偏光を利用する設計となっています (水平直線偏光以外の利用を希望する場合にはご相談下さい)。偏角および発散角のエネルギー依存性がない光学系を採用しており、高エネルギー分解能モードでの軟X線分光測定および高フラックスモードでの走査型イメージングが可能です。

実験装置として、雰囲気軟X線光電子分光（AP-XPS）装置が配置されており、固体の化学状態を定量分析することができます。試料上の光スポットサイズは30 µm(縦) x 80 µm(横)です。標準測定では超高真空（10^-10 mbar）での測定を、アドバンスト測定では100～1023 mbarでの測定を実施できます。測定時の試料温度は室温から500℃まで対応しています。

ビーム特性

エネルギー: 180～2000 eV
フラックス　: > 1x10¹² photons/s　（計算値、エネルギーや実験条件に依存する）
ビームサイズ: XPS:30 µm(縦)×80 µm(横)，XAS:1 mm(縦)×1 mm(横)非集光

光源と光学系

71極・周期長56 mmのAPPLE-II型アンジュレータを光源とし、回折格子分光器で単色化した軟Ｘ線ビームが利用可能です。分光器の下流にスリットがあり、エネルギー分解能の調整や、走査型イメージングにおける仮想光源として利用できます。

実験ステーション

測定法: XPS　　　・1スペクトル2-3分程度

AP-XPS　・1スペクトル15分程度

SX-XAFS（全電子収量法、部分蛍光収量法）・1スペクトル15分程度
試料サイズ: XAS：最大で14 mm(縦)×12 mm(横)（厚みは数mm）
XPS：最大で11 mm(縦)×11 mm(横)
サンプルプレート: ・XPS　　　　　　　　　　　　　　　　・SX-XAFS(標準測定)
　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 SX-XAFS(標準)の試料マウントについて
試料について: XPS：導電性のある固体で、観察対象が表面から2 nm以内に存在すること
SX-XAFS：
　・全電子収量法：観察対象が表面から5 nm以内に存在する導電性固体
　・部分蛍光収量法：観察対象が表面から100 nm以内に存在する固体
　　　　　　　　　　絶縁性試料に対応