BL08W-XRD

• ・試料―検出器間距離：約250～825 mm
• ・2θ範囲：2θ ＜ 50°（17.5 keVではCuKα 133°に相当）
• ・試料はキャピラリーに封入し持ち込み。【 キャピラリー試料の準備方法 】
• ・試料ホルダーは、SPring-8 BL19B2、あいちSR BL5S1と同等。
• ・BL所有の標準試料CeO₂データを提供
• ・キャピラリーの位置調整は自動化済。
• ・データの1次元化が可能。 ※解析用ソフトウェア非搭載。

測定例)　Siの2次元, 1次元データ（28.5 keV, 試料－検出器間距離235 mm, 5秒露光）

解析例)　CeO₂のRietveld解析

※リートベルト解析の試験運用を検討中（詳細はスタッフまで）

• ・温度範囲：室温～600℃
• ・ハッチを開閉することなく温度変更可能。
• ・ビームタイム開始後に試料位置へ熱電対を設置し温度校正を実施。
• ※温度変化率は変更不可。

測定例)　BaTiO₃の温度変化粉末回折パターンと試料位置の温度変化

• ・ステージ：神津精機社製XA07A-L202, ZA07A-V1F01
• ・試料―検出器間距離：約100～580 mm
• ・分解能：縦70 µm × 横170 µm (要相談)
• ・他の自動ステージ類(回転, 傾き)の使用をご希望の場合には別途相談
• ・蛍光X線マッピングは大気中で測定するため、主に遷移金属類が測定対象

測定のイメージ。XZステージで試料を平行移動させ、各点で回折/蛍光X線データを取得

測定例)　蛾の羽（17.5 keV、水平71 µm、垂直100 µmステップで300×110点をマッピング、各点1秒蓄積、総測定時間660分）

• ・SwivelステージをXZステージに搭載、入射角を制御(±20°)。
• ・半割調整により、積層デバイスの表層数十umを狙った測定も可能。

• ・試料環境制御のための実験装置はユーザー持ち込み。
• ・キャピラリー試料の場合はBL提供の装置により室温～600℃の範囲の温度変化測定が可能。
• ・ガス雰囲気で実験する場合、使用できるガスはN₂、CO₂など無害 なものに限定。

【ビーム特性・検出器仕様】
　◇ビーム特性

• エネルギー⁽¹⁾ 17.5 keV, 28.5keV
• フラックス⁽²⁾ 8.8×10¹⁰ photon/s(17.5 keV)
  4.2×10⁹ photon/s(28.5 keV)
• ビームサイズ⁽³⁾ 120 µm(水平), 70 µm(垂直)

(1)他のブランチ(XAFS, SAXS)の利用がある場合は、ビームタイム中のエネルギー切り替えは不可。
(2)蓄積リング電流400 mAにおける実測値
(3)下記粉末回折計試料位置での実測値

　◇大面積IGZOフラットパネル検出器

• 検出器 浜松ホトニクス社製C14406DK-2918
• 検出面積 430 mm×430 mm
• 蛍光体 直接蒸着CsI
• フレームレート 最高15 fps（フルフレーム）
• ダイナミックレンジ 87 dB

　◇蛍光X線分析用検出器

• 検出器 テクノエーピー社製 XSDD30-01GRCL-ICF
• 有効領域 28 mm²
• ウィンドウ グラフェン
• 最大計数率 1 Mcps

• ・実験ハッチ内外まで3種類のケーブル(BNC1本、LAN1本、USB3本)を利用可能。
• 　ご使用の場合は予約時に申請。

• ・MYTHEN2検出器を4台搭載したHuber回折計と試料自動交換装置を導入予定(2027年度より)。
• ・2θ ～ 120°まで利用可能 (28.5 keVで q ～25 Å-1に相当)。
• ・電子密度解析などの詳細構造の解析や、二体分布関数による原子間距離・分子の配位構造などの解析が可能。
• ・装置は筑波大学の西堀英治教授が整備したものを使用。利用形態については検討中。
• ・高輝度光科学研究センターと連携し、高圧X線回折、引張圧縮X線回折を整備中。